塑料簿膜薄片測厚儀 型號: CH-12.7-STSX
技術參數:
分度值:0.01mm
測量范圍與準確度:0mm~12.7mm,≤0.005mm
用 途:于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定(大測量深度為80mm)
執行 標 準:GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技術參數:
分度值:0.01mm
測量范圍與準確度:0mm~12.7mm,≤0.005mm
用 途:于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定(大測量深度為80mm)
執行 標 準:GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技術參數:
分度值:0.01mm
測量范圍與準確度:0mm~12.7mm,≤0.005mm
用 途:于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定(大測量深度為80mm)
執行 標 準:GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技術參數:
分度值:0.01mm
測量范圍與準確度:0mm~12.7mm,≤0.005mm
用 途:于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定(大測量深度為80mm)
執行 標 準:GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
技術參數:
分度值:0.01mm
測量范圍與準確度:0mm~12.7mm,≤0.005mm
用 途:于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定(大測量深度為80mm)
執行 標 準:GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979