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塑料簿膜薄片測厚儀 CH-12.7-STSX

發布時間: 2020-08-28  點擊次數: 255次

塑料簿膜薄片測厚儀    型號: CH-12.7-STSX  

技術參數:

分度值:0.01mm

測量范圍與準確度:0mm~12.7mm,≤0.005mm

用 途:于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定(大測量深度為80mm)

執行 標 準:GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979

技術參數:

分度值:0.01mm

測量范圍與準確度:0mm~12.7mm,≤0.005mm

用 途:于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定(大測量深度為80mm)

執行 標 準:GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979

 

技術參數:

分度值:0.01mm

測量范圍與準確度:0mm~12.7mm,≤0.005mm

用 途:于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定(大測量深度為80mm)

執行 標 準:GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979

 

技術參數:

分度值:0.01mm

測量范圍與準確度:0mm~12.7mm,≤0.005mm

用 途:于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定(大測量深度為80mm)

執行 標 準:GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979

 

技術參數:

分度值:0.01mm

測量范圍與準確度:0mm~12.7mm,≤0.005mm

用 途:于實驗室對塑料薄膜和薄片試樣厚度的測定(大測量深度為80mm)

執行 標 準:GB/T6672-1986  MOD ISO 4593-1979

 

 

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